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PG15-J型激光平面干涉儀

產地：上海

品牌：上海宙山

編碼：PG15-J

158機床網-上海宙山PG15-J型激光平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用于精密測量光學平面度。儀器配有激光光源（波長為6328A）。對于干涉條紋可目視、測量讀數、照相留存記錄。 PG15-J型激光平面干涉儀工作時對防震要求一般。該儀器可應用于光學車間、實驗室、計量室。如配購相關的必要附件，可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性，光學鍍膜面或金屬塊規(guī)表面的平面度，90o棱角的直角誤差及角錐棱鏡單角和綜合誤差。

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PG15-J型激光平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用于精密測量光學平面度。儀器配有激光光源（波長為6328A）。對于干涉條紋可目視、測量讀數、照相留存記錄。 PG15-J型激光平面干涉儀工作時對防震要求一般。該儀器可應用于光學車間、實驗室、計量室。如配購相關的必要附件，可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性，光學鍍膜面或金屬塊規(guī)表面的平面度，90^o棱角的直角誤差及角錐棱鏡單角和綜合誤差。
二、特點：
PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。
PG15-J	根據近代光學的研究結果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的
PG15-J	波動性的特性。
	三、主要技術參數：
	1、第一標準平面（A面），不鍍膜。工作直徑：D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。 2、第二標準平面（B面），不鍍膜。工作直徑：D2=Φ140mm 不平度小于0.03μm(λ/20)。 3、準直系統(tǒng)：孔徑F/2.8，工作直徑：D1=Φ146mm 焦距：f=400mm. 4、測微目鏡：焦距f=16.7mm,放大倍數β=15X，視場角2w=40^o 成像物鏡：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37 5、干涉室尺寸：深260寬300190mm。 6、光源規(guī)格：激光ZN18（He-Ne）。 7、儀器的外形尺寸：長寬高 350400720mm。 8、儀器重量：100公斤。

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