光學(xué)測量的新紀(jì)元：速度、精度和可探測性，改寫了業(yè)界的掃描規(guī)則！
日前，?？怂箍涤?jì)量發(fā)布HP-O技術(shù)解決方案——基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測距技術(shù)，為固定式三坐標(biāo)測量機(jī)所提供的新型光學(xué)掃描技術(shù)。
HP-O提供了與觸發(fā)式掃描測頭相媲美的精度與可靠性，同時(shí)提供了更快的掃描速度、擴(kuò)大的測量范圍，并擁有通用光學(xué)非接觸測量的優(yōu)勢。如果需要高效的掃描測量，而觸發(fā)測頭難以接近工件，或者零部件會在觸發(fā)探測過程中變形或受損，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇。
HP-O解決方案支持多傳感器測量：借助測頭更換架，多個(gè)光學(xué)測頭和觸發(fā)測頭可以在一個(gè)程序中互換。光學(xué)測頭可用于單點(diǎn)檢測和在開放循環(huán)模式中的3軸或4軸掃描測量。該解決方案提供了一個(gè)完整的測量系統(tǒng)，包含QUINDOS測量軟件 和Leitz PMM-C高精度測量機(jī)。
HP-O的新型輕型測頭擁有±30°的接收角度，重復(fù)性小于0.3μm。HP-O的獨(dú)特優(yōu)勢還包括：
● 非接觸測量：使得零件免受任何機(jī)械損傷，可避免測針磨損，同時(shí)零件不需要任何噴涂標(biāo)記。
● 測頭直徑只有3mm，測量范圍高達(dá)20mm，能夠接觸到觸發(fā)測頭難以到達(dá)的特征。
● 減少機(jī)械探測的局限性，實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)采集，提供了更快的掃描速度。
● 空間分辨率高，完成最小細(xì)節(jié)乃至微觀尺寸的測量。
● 以高點(diǎn)密度簡便的獲得特征信息。
“很多人希望通過光學(xué)測量解決觸發(fā)探測方式的局限性，例如損傷敏感的零件表面，”Ingo Lindner，?？怂箍涤?jì)量的產(chǎn)品線經(jīng)理說。“然而，光學(xué)傳感器往往難以整合到三坐標(biāo)測量機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)工作流程中，因此，光學(xué)測頭僅僅使用在特殊情況下?，F(xiàn)在，隨著海克斯康計(jì)量三坐標(biāo)測量機(jī)專門配備的HP-O解決方案的發(fā)布，我們相信找到了領(lǐng)先于其他測量系統(tǒng)的高效高精密光學(xué)掃描方案。”■
